IC芯片自動化視覺檢測設備檢測電容電阻尺寸方案！
作者 : 安徽思普泰克發(fā)布時間 : 2020-03-10 瀏覽 : 212 次
注明：IC芯片自動化視覺檢測設備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數量 不低于150件(取決于產品送料速度)
一、檢測內容及要求
檢測內容：
最大尺寸長30mm*寬15mm的產品的尺寸檢測
注明：IC芯片自動化視覺檢測設備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數量 不低于150件(取決于產品送料速度)
頂部背光檢測良品分析圖（TS1025186-00-AS1)：OK
頂部背光檢測原圖（G8386152-003-AS1)：
頂部背光檢測原圖（P1071964-S1)：
頂部背光檢測良品分析圖（P1071964-S1)：OK
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| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 |
| 1 | 針腳臺階尺寸 | 背光檢測 | 可檢 |
| 2 |
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| 3 |
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| 4 | 倒角位置 |
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不可檢 |
| 5 | 斜面位置 |
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不可檢 |
注明：IC芯片自動化視覺檢測設備檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率：每分鐘檢測數量 不低于150件(取決于產品送料速度)
二、設備組成及主要機構
設備型號：SP-T300非標定制機 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 部件名稱 | 規(guī)格型號 | 數量 | 備注 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 | 數據可上傳 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
|
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
|
| 4 | 工業(yè)相機 | Barsler工業(yè)相機 | 1套 |
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| 5 | 相機調節(jié)伺服模組 | SIPOTEK定制 | 1套 |
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| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學工業(yè)鏡頭 | 1套 |
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| 7 | 光源 | 定制光學自適應光源 | 1套 |
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| 8 | 檢測平臺 | 專業(yè)光學玻璃載臺 | 1套 |
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| 9 | 伺服電機 | 松下·PANASONIC | 1套 |
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| 10 | 控制系統(tǒng) | SIPOTEK定制 | 1套 |
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| 11 | PLC運動協作 | 松下·PANASONIC | 1套 |
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IC芯片自動化視覺檢測設備外觀3D立體圖
三、樣件測試圖片:
頂部背光檢測原圖（G8301909-102-LFS1)：
三、樣件測試圖片:
頂部背光檢測原圖（G8301909-102-LFS1)：
頂部背光檢測良品分析圖（G8301909-102-LFS1)：OK
頂部背光檢測原圖（G8340010-001-LFS1)：
頂部背光檢測良品分析圖（G8340010-001-LFS1)：OK
頂部背光檢測原圖（34475-001-LFS1)：
頂部背光檢測良品分析圖（34475-001-LFS1)：OK
頂部背光檢測原圖（LED-45188551-LF)：
頂部背光檢測良品分析圖（G8340010-001-LFS1)：OK
頂部背光檢測原圖（34475-001-LFS1)：
頂部背光檢測良品分析圖（34475-001-LFS1)：OK
頂部背光檢測原圖（LED-45188551-LF)：
頂部背光檢測良品分析圖（LED-45188551-LF)：OK
頂部背光檢測原圖（TS1025186-00-AS1)：
頂部背光檢測良品分析圖（TS1025186-00-AS1)：OK
頂部背光檢測原圖（G8386152-003-AS1)：
頂部背光檢測良品分析圖（G8386152-003-AS1)：OK
頂部背光檢測原圖（P1071964-S1)：
頂部背光檢測良品分析圖（P1071964-S1)：OK
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